半導(dǎo)體器件的可靠性測試或試驗(yàn)是半導(dǎo)體生命環(huán)節(jié)的重要部分，是必須完成的一個(gè)流程要求?？煽慷鹊亩x是產(chǎn)品在規(guī)定的時(shí)間內(nèi)，在特定的使用（環(huán)境）條件下，執(zhí)行特定的性能或功能時(shí)完成任務(wù)的概率（成功概率）或發(fā)生故障的概率。也就是說，可靠度是指預(yù)期產(chǎn)品銷售后，在使用的壽命期間會(huì)有多少產(chǎn)品失效，同時(shí)也可藉由可靠度的評估去推估在保固時(shí)間內(nèi)會(huì)有多少比例的退貨產(chǎn)品。而對于功率器件來說，可靠性是指器件在一定時(shí)間內(nèi)、一定條件下無故障的運(yùn)行的能力，是功率器件最重要的品質(zhì)特性之一。要滿足現(xiàn)代技術(shù)和生產(chǎn)的需要，獲得更高的經(jīng)濟(jì)效益，必須使用高可靠性的產(chǎn)品，這樣設(shè)計(jì)的產(chǎn)品才具有更高的市場競爭力。

LET-6000系列即是針對半導(dǎo)體器件的可靠性要求，滿足多種標(biāo)準(zhǔn)的可靠性試驗(yàn)系統(tǒng)。本系統(tǒng)可以完成高溫工作壽命HTOL、溫濕度H3TRB、高溫反偏HTRB和高溫柵偏HTGB的可靠性試驗(yàn)工藝過程的試驗(yàn)。


LET-6000 系列的技術(shù)規(guī)格、系統(tǒng)特點(diǎn)及功能

1、滿足的試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)
? ESD51-1
? AEC-Q101  
?    GJB128A  
? MIL-STD-750
? JESD22A-108
?    JESD22A-101


 2、滿足的試驗(yàn)器件類型
? 二極管
? MOSFET
? IGBT
? CMOS
? IPM 等功率器件
? 各類IGBT 模塊


3、試驗(yàn)系統(tǒng)的電氣參數(shù)及功能
? 漏電流范圍：10nA~1A(HTRB、H3TRB)
? 漏電流范圍：1nA~2mA(HTGB)
? 試驗(yàn)電壓：10V~6000V(HTRB、HTOL)  
? 試驗(yàn)電壓：±30V-200V(HTGB、H3TRB)
? 接地電阻≦1Ω  

4、試驗(yàn)系統(tǒng)的容量及擴(kuò)展
? 試驗(yàn)通道：8/16/24、可擴(kuò)展
? MAX 工位數(shù)：640/ 1280 /1960
? 老化板尺寸：280mm×500mm （器件不同會(huì)變化）
? 器件的封裝類型：軸向/徑向二極管、TO-247-3/4、TO-3P、 TO- 220 等，可以根據(jù)需要選擇
? 老化板可以支持最新的封裝類型，如 DFN、D-PAK（252）、D2PAK （263）E-mode、WPAK、POWER-PAK 等。
? 模塊：IGBT 半橋、全橋等

5、試驗(yàn)系統(tǒng)的其它參數(shù)
? 供電電源：220V+10%, 50Hz
? 主體尺寸：W1500×H1740×D1600（mm）
? 主體重量：800KG
? 額定功率：20KW
? 工作溫度：0—40 度

6、產(chǎn)品主要特點(diǎn)：
? 試驗(yàn)溫度：采用整個(gè)溫區(qū)為有效試驗(yàn)區(qū)的設(shè)計(jì)方式，確保溫區(qū)在滿載 的條件下每個(gè)插槽溫度的均勻性和穩(wěn)定性。
? 試驗(yàn)電源：采用輸出接近式小紋波程控直流試驗(yàn)電源，電源輸出速率 可調(diào)，且漸近試驗(yàn)電壓值，有效避免由于電源輸出試驗(yàn)電壓過沖而損 傷器件。
? 試驗(yàn)電壓：無損激勵(lì)源的偏壓方式，試驗(yàn)電路無限流電阻，被測器件 線路無分壓，確保器件兩端電壓恒定不突變，從而確保試驗(yàn)數(shù)據(jù)的真實(shí)。
? 試驗(yàn)檢測：高邊輸入端控制通斷，可物理開關(guān)方式剔除異常器件的偏壓源輸入，不影響其它器件，避免限流電阻發(fā)熱碳化或燒毀電路板、避免頻繁更換限流電阻，從而降低使用成本；高速數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)，對數(shù)據(jù)實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)實(shí)時(shí)監(jiān)控，確保異常器件能即時(shí)被發(fā)現(xiàn)和相應(yīng)處理。
? 試驗(yàn)配件：老化板，夾具上無電阻等發(fā)熱器件，不會(huì)燒毀電阻及 PCB  等，降低使用耗材。