測量挑戰(zhàn)

是德科技網(wǎng)絡(luò)分析儀能夠用來表征和測試有源組件，例如放大器、混頻器和頻率轉(zhuǎn)換器。它們可輕松進行放大器的常規(guī)參數(shù)測量，例如增益、增益和相位壓縮、隔離度、回波損耗和群時延。諧波失真常用于了解放大器的非線性行為，接收機有時需要工作在與激勵源不同的頻率上。由于頻率轉(zhuǎn)換器件的輸入頻率和輸出頻率不同，例如混頻器和頻率轉(zhuǎn)換器，因此，精確地對頻率變換器件進行測量具有很大的挑戰(zhàn)性。用于測量這些器件的網(wǎng)絡(luò)分析儀必須具有頻偏模式（FOM），才能夠勝任測量這種輸入頻率和輸出頻率不相同的器件的任務。有時，可能還需要使用其他儀器和信號調(diào)節(jié)器件來進行雙音測量、大功率器件測量、噪聲系數(shù)測量、ACPR和EVM等其他類型的測量。因此，測量系統(tǒng)變得越來越復雜或者完成一個放大器的測量需要多個不同的測量工位。

我們的解決方案

是德科技提供全面的測試解決方案，對有源元器件進行矢量網(wǎng)絡(luò)分析。是德科技VNA專為線性和非線性表征而設(shè)計，具有業(yè)內(nèi)最高的精度。除了高性能優(yōu)勢之外，多款測量應用軟件可簡化設(shè)置、縮短測試時間并提高測量精度。

主要特性

-   放大器增益、匹配和隔離：S參數(shù)測量

-   AM-AM和AM-PM轉(zhuǎn)化：功率掃描，信號源和接收機校準

-   大功率/脈沖可配置性：可配置的測試座、大輸出功率、信號源和接收機衰減器、內(nèi)置脈沖發(fā)生器、外部脈沖發(fā)生器控制、內(nèi)置脈沖調(diào)制器

-   頻率轉(zhuǎn)換器轉(zhuǎn)換增益/損耗：FOM、信號源和接收機校準、標量混頻器校準

-   頻率轉(zhuǎn)換器轉(zhuǎn)換相位/群延遲：FOM、幅度和相位校準、失量混頻器校準

-   LO驅(qū)動/測量：第二個內(nèi)部信號源、外部射頻源控制、三端口校準和測量、LO功率校準

-   混頻器拓撲：掃描射頻、掃描/固定LO（固定IF/掃描IF）、雙級變頻器、帶有內(nèi)置LO的變頻器

-   精確的信號源輸出功率和絕對功率測量：信號源和接收機校準、功率傳感器失配校正、接收機電平調(diào)節(jié)

-   諧波失真：FOM、信號源和接收機校準、較低的信號源諧波、接收機

衰減器

-   互調(diào)失真（IMD）：FOM、第二個內(nèi)部信號源、外部信號源控制、內(nèi)置信號合成網(wǎng)絡(luò)、swept-IMD

-   噪聲系數(shù)測量

-   Hot-S22測量：FOM、備用信號源、內(nèi)置信號合成網(wǎng)絡(luò)

-   功率附加效率：直流輸入和/或直流電表控制

-   直流偏置：內(nèi)部直流偏置源/直流源控制/內(nèi)置直流偏置電路

-   非線性矢量網(wǎng)絡(luò)分析（NVNA）：波形分析、X參數(shù)