高速串行互連分析

測(cè)量挑戰(zhàn)

隨著數(shù)字系統(tǒng)的數(shù)據(jù)速率不斷提高，互連的信號(hào)完整性對(duì)系統(tǒng)性能的影響也日益擴(kuò)大。物理層元器件例如印刷電路板走線、連接器、電纜和C封裝的影響不能再被忽視。因此，快速精確的時(shí)域和頻域互連性能分析成為確保系統(tǒng)性能可靠性的關(guān)鍵。由于對(duì)多個(gè)測(cè)試系統(tǒng)進(jìn)行管理并非易事，所以能夠全面表征各種高速數(shù)字器件的單一測(cè)試系統(tǒng)就成為測(cè)試人員的首選工具。

是德科技解決方案

N1930B物理層測(cè)試系統(tǒng)（PLTS）

-  自動(dòng)夾具移除（AFR）可對(duì)通道路徑中的不必要結(jié)構(gòu)進(jìn)行精確簡(jiǎn)單的誤差校正和去嵌入

-  通道仿真器提供用戶定義的預(yù)加重和均衡設(shè)置，以進(jìn)行真正的通道分析

-  MATLAB接口允許定制和自動(dòng)執(zhí)行測(cè)試，使測(cè)試計(jì)劃開發(fā)時(shí)間縮短一半

-  表征報(bào)告詳細(xì)介紹了被測(cè)器件所有的關(guān)鍵性能參數(shù)和特定的測(cè)試系統(tǒng)信息，以獲得重要的技術(shù)測(cè)試計(jì)劃數(shù)據(jù)

E5071C ENA 選件TDR

-  與傳統(tǒng)TDR示波器相似的外觀和風(fēng)格，進(jìn)行簡(jiǎn)單直觀的操作

-  同時(shí)在時(shí)域和頻域中進(jìn)行分析，輕松定位損耗、反射和串?dāng)_來(lái)源

-  儀器的內(nèi)部保護(hù)電路提供更強(qiáng)的防靜電放電（ESD）能力

-  為您的鏈路確定理想的加重和均衡設(shè)置

-  通過(guò)抖動(dòng)注入仿真實(shí)際信號(hào)

-  分析有源器件在實(shí)際操作條件下（Hot TDR）的阻抗，以量化多重反射效應(yīng)